据英国《自然·通讯》杂志3日发表的一篇医学研究论文，中美科学家对一种名为“NanoVelcro”的芯片进行了大幅优化，新芯片包含很细的硅纳米线，可针对胎盘植入谱系(PAS)疾病进行无创早期诊断，这种疾病会导致孕产妇在分娩中死亡。

胎盘植入谱系疾病包括侵入性胎盘、植入性胎盘、穿透性胎盘，具体是指妊娠期间胎盘过度侵入子宫肌层，且在分娩时无法脱落。这会造成严重出血，甚至有时会导致孕产妇死亡。目前诊断该疾病的方法虽然也很有效，但有时依然会出现不够准确的情况，抑或是在资源匮乏的地区难以实现。

此次，包括美国加州大学洛杉矶分校、中国深圳人民医院等机构研究人员在内的团队，对之前开发的“NanoVelcro”芯片进行了优化，新芯片包含很细的硅纳米线，外部涂有能检测循环滋养层细胞(组成胎盘的细胞)的抗体。这些细胞会在胎盘发育过程中单个或聚集脱落到母体血液循环中，细胞数量的增加可能提示胎盘植入谱系疾病。

研究团队对168位孕妇进行了血检，有些孕妇被诊断出患有胎盘植入谱系疾病，有些被诊断为胎盘前置(胎盘覆盖宫颈内口)，有些胎盘形成正常。团队发现，PAS组的单个和聚集循环滋养层细胞计数比其他两个组更高。同时，研究还发现，单个和聚集循环滋养层细胞的数量，有助于在妊娠早期将PAS从前置胎盘和正常胎盘中区分出来。

研究人员指出，现在需利用更大样本开展进一步研究。胎盘植入谱系疾病会导致孕产妇在分娩中出现非常严重的状况，而这种新的诊断技术则有望在不久的将来补充现有技术，提高妊娠早期诊断胎盘植入谱系疾病的准确性。